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米国技術栄誉賞、2008年からは特許商標庁が審査


 米国商務省長官のCarlos M. Gutierrez氏は24日、「米国技術栄誉賞(National Medal of Technology and Innovation)」の審査責任機関として、米国特許商標庁(USPTO)を選定したと発表した。

 米国技術栄誉賞は、革新的かつ重要な技術の開発に多大な貢献をした発明家や企業、グループなどに対して米国大統領から授与される賞で、技術分野で授与される賞としては米国で最高の栄誉とされる。従来は、技術管理局が行なってきたが2007年に廃止され、今後の審査機関が注目されていた。

 同賞は1980年に創設され、1985年から授与されており、これまでに175の個人・機関が授与されている。例えばMicrosoftのビル・ゲイツ氏、Apple Computer創業者のスティーブ・ジョブズ氏、スティーブ・ウォズニアック氏をはじめ、ベル研究所などIT系の技術者や機関が多く受賞している。

 今回の審査機関の変更は、米国の特許重視の姿勢を示すとともに、特許商標庁のIT分野における審査能力の高さを評価したものと解されている。


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URL
  ニュースリリース(英文)
  http://www.uspto.gov/web/offices/com/speeches/08-02.htm


( Gana Hiyoshi )
2008/01/28 12:57

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