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JPCERT/CC、ソフトウェア設計工程の脆弱性低減策まとめた報告書


 JPCERT/CCは19日、ソフトウェアの設計工程における脆弱性を低減するための技術報告書「セキュアデザインパターン(英語版)」を公開した。米国のセキュリティ調査団体CERT/CCと共同でとりまとめた。

 セキュアデザインパターンでは、ソフトウェア設計工程で脆弱性につながる要因や、脆弱性被害を最小限にする設計のひな形をまとめたもの。機能に依存しない対策であるため、適用範囲は開発される製品の種類を選ばず、開発言語への依存性も低く、幅広い開発プロジェクトで効果が期待できるとしている。

 セキュアデザインパターンの日本語版は6月に公開される予定。


関連情報

URL
  セキュアデザインパターン(英文、PDF)
  http://www.jpcert.or.jp/research/2009/SecureDesignPatterns-E_090519.pdf


( 増田 覚 )
2009/05/19 19:46

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